阻抗分析仪IM7585
高速、高稳定性测量，提高生产量！测量时间：最快0.5ms，测量值偏差0.07%
- 测量频率：1MHz~1.3GHz
- 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）
- 测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值）
- 基本精度：±0.65% rdg.
- 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
- 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
- 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
阻抗分析仪IM7580s：等效电路分析功能
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且，可以通过模拟功能，使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外，使用比较器功能，还能够确定测量结果是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列：使用SMD治具IM9201进行LCR测量
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用，能够简单准确的测量样品。
阻抗分析仪IM7580系列：区域判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。“区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围，并以IN/NG来显示判定结果。
阻抗分析仪IM7580系列：峰值判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围，并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。
阻抗分析仪IM7580系列：SPOT判定功能
分析模式的比较器功能中，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
“SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数，最多进行16点的判定。
阻抗分析仪IM7580系列：比较器功能
使用比较器功能，可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。
适用于判定样品是否合格的功能。
阻抗分析仪IM7580系列：接触检查功能
使用接触检查功能，能够检查样品和测量端口的接触状态，并确认接触不良情况和连接状态。
阻抗分析仪IM7580系列：测试头的连接方法
测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母（0.56 N・m）。
请注意不要拧过头。
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基本参数（精度保证时间1年，调整后精度保证时间1年） |
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测量模式 |
LCR（LCR测量），分析（扫频测量），连续测量 |
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测量参数 |
Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
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精度保证范围 |
100 mΩ~5 kΩ |
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显示范围 |
Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) |
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基本精度 |
Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
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测量频率 |
1 MHz~1.3 GHz (设置分辨率100kHz) |
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测量信号电平 |
功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm |
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输出阻抗 |
50 Ω (10 MHz时) |
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显示 |
彩色TFT8.4英寸、触屏 |
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测量时间 |
最快0.5ms（FAST、模拟测量时间、代表值） |
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功能 |
接触检查、比较器、BIN判定（分类功能）、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
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接口 |
EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN |
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电源 |
AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
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体积和重量 |
主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg |
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附件 |
电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |
